Ученый ТУ обнаружил весной 15 бракованных ID-карт: департамент связь с недавним кризисом отрицает

Руководитель сферы eID Департамента государственной инфосистемы (RIA) Маргус Арм, комментируя сегодняшнюю новость о том, что докторант ТУ еще весной обнаружил аномалии в 15 ИД-картах, говорит, что это никак не связано с выявленной чешскими учеными уязвимостью чипов, которая привела к т. н. кризису ИД-карт. rus.delfi.ee »